B26-01893-MV - Achat d'un microscope électronique à balayage et de ses équipements
Sector: Advanced Electronics • Location: Arpajon, France
Source: TED Europa
Les Prestations correspondent à l'achat d'un microscope électronique à balayage et de ses équipements, elles se décomposent comme suit : Une part ferme
- Fourniture d’un microscope électronique à balayage comprenant les équipements et logiciels suivants : o La colonne électronique, o La colonne ionique ainsi que le logiciel associé permettant le réglage et le paramétrage de la colonne, o La plat
- Status
- Closed
- Sector
- Advanced Electronics, Education
- Location
- Arpajon, France
- Updated
- 3 Nov 2026
- Source
- TED Europa
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Status
Original status | contract notice |
Taiyo status | Closed |
Taiyo last update | 2026-11-03 |
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Description
Description | Les Prestations correspondent à l'achat d'un microscope électronique à balayage et de ses équipements, elles se décomposent comme suit : Une part ferme - Fourniture d’un microscope électronique à balayage comprenant les équipements et logiciels suivants : o La colonne électronique, o La colonne ionique ainsi que le logiciel associé permettant le réglage et le paramétrage de la colonne, o La platine et le porte échantillon, o Les détecteurs pour l’imagerie à savoir: Un détecteur d’électrons secondaires immergé dans la colonne électronique Un détecteur d’électrons secondaires rétractable situé dans le haut de la colonne électronique pour capter les électrons secondaires issus de l’extrême surface de l’échantillon. Un détecteur d’électrons rétrodiffusés immergé dans la colonne électronique à haute vitesse d’acquisition. Un détecteur qui permet à la fois la détection des ions (après conversion en électrons) et des électrons secondaires. Un détecteur d'électrons secondaires dédié au mode bas vide Un détecteur d’électrons rétrodiffusés rétractable o Un spectromètre de rayons X à sélection d’énergie (EDS) et le logiciel associé permettant l’acquisition et le traitement des spectres conformément au §2.5 du Cahier des Charges cité supra, o Le logiciel de recherche automatique de particules, o Injecteurs de gaz pour dépôts de matières, o Un dispositif de nettoyage de la pollution carbonée dans la chambre de mesure, o Dispositif de prélèvement de micro objets associé à la colonne ionique - La livraison et l’installation de l’équipement sur le site du CEA/DIF à Bruyères-le-Châtel - La formation à l’utilisation de l’appareil et du logiciel Une part optionnelle : - Option 1 – en cas de levée : Spectromètre combinant la détection des électrons rétrodiffusées et des rayons X, - Option 2 – en cas de levée : Spectromètre EDS sans fenêtre incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 3 – en cas de levée : Spectromètre EDS rétractable à faible distance de l’échantillon incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 4 – en cas de levée : Deux injecteurs de gaz : un injecteur d’or et un injecteur de carbone incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 5 – en cas de levée : Un détecteur STEM incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 6 – en cas de levée : Un détecteur de type EBSD incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 7 – en cas de levée : Un dispositif de improvement munis de pinces incluant la maintenance pour une durée d’un an, - Option 8 – en cas de levée : Logiciel de reconstruction en trois dimension, - Option 9 – en cas de levée : Logiciel de post-traitement des images et spectres, - Option 10 – en cas de levée : Maintenance pour une durée d’un an à l’issue de la période de garantie pour l’ensemble des équipements de la part ferme - Option 11 – en cas de levée : Garantie pour une durée de deux ans des équipements de la part ferme - Option 12 – en cas de levée : Garantie pour une durée de trois ans des équipements de la part ferme |
Original sector | Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses) |
Location
Country | France |
City | Arpajon |
Source
Source | TED Europa |
URL |
More Details
Record type | Tender |
Sector | Advanced Electronics, Education |
Article published date | 2026-04-17 |
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