Question 1

What does the tender “Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)” cover and in which sector is it issued?

Accepted Answer

The tender “Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)” is a tender record in Taiyo, linked to the Advanced Electronics sector. It is issued for works, goods, or services related to France.

Question 2

What is the current bidding status of the tender “Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)”?

Accepted Answer

The status recorded for “Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)” is contract award notice.

Question 3

What is the procurement method and commercial structure for “Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)”?

Accepted Answer

The budget is USD 1.077085.

Question 4

How can I verify the tender source and access bidding documents for “Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)”?

Accepted Answer

Taiyo’s tender pages link back to the originating system via https://ted.europa.eu/en/notice/-/detail/00299503-2026, referencing TED Europa as the source. Users can follow the official link to download tender documents and submission instructions.

Original status	contract award notice
Taiyo status	Closed
Taiyo last update	2026-11-03

Description	La consultation comprend : - La fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB), - Des options : o Formation à la maintenance 1er niveau o Porte échantillons supplémentaires o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard) o Refroidissement des échantillons sans azote o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé o Formation à la maintenance avancée
Original sector	Electrical machinery, apparatus, equipment and consumables; lighting
Budget

Record type	Tender
Sector	Advanced Electronics, Education
Article published date	2026-04-30

Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)

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Source	TED Europa
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